集成电路测量技术与仪器论坛（已结束）

合作主办

集成电路产业作为电子信息产业的基础和核心，是国民经济和国防的重要支柱与战略性产业。无线通信、人工智能、汽车电子、新型传感器、新型显示驱动着集成电路的设计水平不断提升，同时对集成电路测试带来更大的挑战。由于整体半导体设备领域存在较高的技术、资金及产业协同等壁垒。与国外企业相比，国内企业进入该领域时间较晚，整体实力和规模与国外竞争对手存在较大差距。然而，经过多年来的不懈追赶，本土企业技术水平迅速提高，检测和量测设备从无到有，国产替代势在必行。

在此背景下，CIOE中国国国际光电博览会将邀请半导体检测产业链上下游知名企业、专家学者举办“集成电路测量技术与仪器论坛”围绕集成电路制造中的材料表征、纳米测量、缺陷检测、电学测试、精密传感、计量标准等领域，开展集成电路制造测量检测基本原理与方法、关键技术与核心器件、计量标准与测量技术规范、测量系统集成与装备开发等方面的交流与研讨，解决集成电路检测领域“卡脖子”问题。