主办单位
中国光学学会光学制造技术专业委员会
复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心
中国国际光电博览会(CIOE中国光博会)
合作主办
北京理工大学
智能制造时代,光学检测在其中发挥着至关重要的作用。在工业制造过程中,光学检测保障了产品质量、精度和性能等方面的稳定性,为智能制造时代的来临奠定了基础。随着全球半导体产业产能的持续扩张,半导体设备的需求呈现出快速增长的趋势,从而推动了市场对检测和量测设备的需求。中国作为全球第一大半导体设备市场,对测试测量设备的依赖程度将持续增加。主流半导体制程正在向更小尺度发展,从28nm、14nm向10nm、7nm进步,部分先进半导体制造厂商已经实现了5nm工艺的量产并开始研发3nm工艺。三维FinFET晶体管、3D NAND等新技术也逐渐成为行业主流。
然而,随着工艺的不断进步,产品制程步骤增多,微观结构复杂化,生产成本呈指数级提升。为了获取更高的晶圆良品率,必须严格控制晶圆之间、同一晶圆上的工艺一致性。这无疑对质量控制的需求提出了更高的要求。未来,检测和量测设备需要在灵敏度、准确性、稳定性、吞吐量等关键指标上持续优化,以确保每道工艺均落在容许的工艺窗口内,从而保证整条生产线平稳连续的运行。这种需求推动了相关设备技术的不断创新和发展,同时也为质量控制领域带来了巨大的挑战和机遇。
时间 | 演讲题目 | 演讲嘉宾 |
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分会场一:光学半导体检测 | ||
嘉宾主持:徐敏 复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心 教授 | ||
10:00-10:05 | 会议开场 | |
10:05-10:25 | AI驱动高灵敏度量测发展,助力晶圆制造良率提升 | 张雪娜 深圳市埃芯半导体科技有限公司 董事长、CTO |
10:25-10:45 | 光学测量仪器高性能制造 | 徐敏 复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心 教授 |
10:45-11:05 | 机器视觉在半导体行业尺寸管理中的应用 | 王志伟 天准科技股份有限公司 计量事业部产品总监 |
11:05-11:25 | 化合物半导体晶圆缺陷检测技术及应用 | 吴周令 合肥知常光电科技有限公司 首席科学家 |
11:25-11:45 | 超高精密半导体检测镜头 | 赵娟宁 光库智能科技有限公司 技术总监 |
午餐&休息 | ||
分会场二:光谱检测技术 | ||
嘉宾主持:张楠 北京理工大学 教授 | ||
14:00-14:05 | 会议开场 | |
14:05-14:25 | 超构光学多维探测成像技术 | 易飞 华中科技大学光学与电子信息学院 教授 |
14:25-14:45 | 多维光场探测:从光谱到深度光谱 | 崔靖 上海复享光学股份有限公司 光谱仪事业部总经理 |
14:45-15:05 | Specim 高光谱成像技术及其相关应用场景 | 张振亚 Specim 中国区销售经理 |
15:05-15:25 | 高时空分辨率片上高光谱计算成像 | 边丽蘅 北京理工大学 教授 |
15:25-15:45 | 以光为尺,量测万物——让机器看准世界 | 钟耀良 先临三维科技股份有限公司 华南区域经理 |
15:45-16:05 | 创新型黑硅光电二极管技术及其潜在应用 | 纪凡 芬兰ElFys 项目经理 |
16:05-16:25 | 芯片化光谱成像技术的发展趋势和应用前景 | 王宇 北京与光科技有限公司 联合创始人、董事长、首席执行官 |
16:25-16:45 | 紫外-可见至近红外光谱助力半导体量测 | 周瑶 卡尔蔡司(上海)管理有限公司 助理产品经理 |
复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心 教授
深圳市埃芯半导体科技有限公司 董事长、CTO
天准科技股份有限公司 计量事业部产品总监
合肥知常光电科技有限公司 首席科学家
光库智能科技有限公司 技术总监
北京理工大学 教授
华中科技大学光学与电子信息学院 教授
上海复享光学股份有限公司 光谱仪事业部总经理
Specim 中国区销售经理
北京理工大学 教授
先临三维科技股份有限公司 华南区域经理
芬兰ElFys 项目经理
北京与光科技有限公司 联合创始人、董事长、首席执行官
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 助理产品经理